sabato, Aprile 27, 2024
HomeAZIENDETeledyne LeCroy sviluppa un accurato sistema di misurazione per l'analisi dei semiconduttori...

Teledyne LeCroy sviluppa un accurato sistema di misurazione per l’analisi dei semiconduttori GaN e SiC

Nuove sonde da 1 GHz, oscilloscopi ad alta definizione a 12 bit e software di test contribuiscono a realizzare avanzati test per i semiconduttori wide bandgap 

Teledyne LeCroy ha annunciato il lancio del nuovo software di test per dispositivi di alimentazione e la sonda ad alta tensione DL-ISO da 1 GHz isolata otticamente, che, combinati con i suoi oscilloscopi ad alta definizione (HDO), offrono la più accurata misura delle caratteristiche elettriche dei dispositivi a semiconduttore di potenza al nitruro di gallio (GaN) e al carburo di silicio (SiC).

Per più di trent’anni, gli ingegneri hanno utilizzato dispositivi di potenza MOSFET e IGBT, realizzati su supporto di silicio per produrre alimentatori e sistemi di conversione di potenza. La tradizionale tecnologia basata sul silicio sta per essere sostituita dai dispositivi realizzati con semiconduttori wide bandgap (WBG) come SiC e GaN, in grado di offrire una più elevata efficienza energetica, maggiore velocità di commutazione e peso e dimensioni inferiori.

Questi dispositivi, tuttavia, richiedono un’analisi più accurata che comporta l’impiego di una strumentazione specifica come la nuova sonda isolata otticamente ad alta tensione Teledyne LeCroy DL-ISO che offre ai progettisti la possibilità di effettuare test più affidabili sui dispositivi a semiconduttore di potenza GaN e SiC. La nuova sonda presenta la migliore fedeltà del segnale, il più basso overshoot e la migliore precisione: 1,5% se combinata con gli HDO con risoluzione a 12 bit di Teledyne LeCroy, quasi il doppio rispetto all’unico concorrente. La larghezza di banda di 1 GHz consente di misurare i fronti di salita dei dispositivi GaN, tipicamente dell’ordine del nanosecondo. Gli HDO sono in grado di effettuare un campionamento fino a 20 GS/s con una risoluzione di 12 bit per una fedele acquisizione e visualizzazione dei dispositivi GaN e SiC durante la commutazione ad alta velocità. Questa combinazione di migliore fedeltà del segnale, basso overshoot, elevata precisione, elevata larghezza di banda e alta frequenza di campionamento è di fondamentale importanza per implementare con successo le tecnologie GaN e SiC nei nuovi progetti.

Prezzo e disponibilità

Le sonde DL-ISO sono offerte con larghezze di banda di 350 MHz, 700 MHz e 1 GHz. La disponibilità della sonda e del software Power-Device è di 14 settimane ARO. Per ulteriori informazioni, visitare teledynelecroy.com/powerprobes

Gli HDO Teledyne LeCroy compatibili hanno una larghezza di banda da 350 MHz a 8 GHz, con una risoluzione di 12 bit in ogni momento e una frequenza di campionamento fino a 20 GS/s. Per ulteriori informazioni, visitare teledynelecroy.com/hdo