La nuova piattaforma di test si pone sul mercato come l’unica in grado di eseguire test DC e di stress energetico fino a 4KV con un parallelismo sorprendente.
Il Gruppo Microtest, leader europeo nella realizzazione di sistemi di test e nel testing di chip su package e su wafer di silicio, presenta in occasione di APEC 2025 (16 -20 marzo, Atlanta, USA) il nuovo tester VIP ULTRA, nuova generazione dello storico prodotto di Microtest VIP Extended, un ATE (Automatic Test Equipment) destinato al test di dispositivi Wide Band Gap (WBG), SiC e GaN.
Grazie alla maggiore efficienza energetica ottenuta nel loro utilizzo, i dispositivi realizzati con materiali WGB stanno trovando largo impiego nel settore automobilistico e industriale rivolto soprattutto allo sviluppo di tecnologia per veicoli elettrici e ibridi, inverter solari, infrastrutture 5G e data center, sempre più richiesti per supportare le richieste di calcolo delle emergenti applicazioni AI (Artificial Intelligence) e ML (Machine Learning).
Per soddisfare le esigenze di test di questo innovativo comparto, Microtest ha progettato e sviluppato VIP ULTRA, un tester con maggiore flessibilità operativa che offre diverse configurazioni con risorse che raggiungono tensioni di 1,7kV (VIP ULTRA HV 1.7KV) e 4kV (VIP ULTRA HV 4KV) con correnti fino a 250A.
VIP ULTRA si pone così come l’unica piattaforma di test sul mercato in grado di garantire un completo set di strumenti per l’esecuzione di test DC e di stress energetico con un parallelismo particolarmente elevato (32 elementi nella configurazione 1,7KV e 16 elementi nella versione da 4 kV).
Queste innovative caratteristiche lo rendono particolarmente adatto al test di chip smart e high power eseguiti a livello di wafer di silicio per verificare la corretta funzionalità dei dispositivi integrati prima dell’operazione di taglio (dicing), necessaria per isolare e successivamente assemblare il componente integrato stesso.
“Con VIP ULTRA, stiamo portando innovazione nel settore del testing di dispositivi high power con una piattaforma di test più efficiente e vantaggiosa per il mercato. Sempre più applicazioni, dal settore Automotive a quello dei data center, richiedono dispositivi elettronici che possano gestire efficacemente elevate quantità di energia. Questo impone anche alle piattaforme di test di evolversi, per supportare tensioni maggiori, massimizzando la capacità produttiva.
Numerosi attori, privati e governativi, stanno investendo in nuove fabbriche, strutture e centri di ricerca per sviluppare nuovi materiali e nuove tecnologie in grado di rispondere alle nuove applicazioni industriali: se fino a dieci anni fa il semiconduttore per eccellenza era il silicio, oggi è noto che la sua combinazione col carbonio lo rende più adatto alle nuove richieste di mercato. Microtest, con la sua lunga e solida competenza nel settore, si propone di rispondere con il nuovo tester VIP ULTRA alle esigenze di un mercato in continua evoluzione”, ha dichiarato Emiliano Consani, Head of ATE Business Unit del Gruppo Microtest.
Ad APEC 2025 (Booth 1142), oltre a presentare VIP ULTRA, Microtest esporrà altre soluzioni per il collaudo dell’elettronica di potenza realizzate dalle due controllate del gruppo: MOSTRAK 2 della britannica ipTEST e FTI-1000 della statunitense Focused Test.
Ulteriori informazioni sul sistema di test VIP ULTRA.
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