domenica, Aprile 28, 2024
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Toshiba annuncia nuovi fotorelè per applicazioni di test sui semiconduttori

Nuovo fotorelè TLP3412SRLA di Toshiba

Il nuovo TLP3412SRLA supporta il funzionamento a bassa tensione e ad alta temperatura.

Toshiba Electronics ha introdotto il nuovo fotorelè TLP3412SRLA in grado di funzionare a bassa tensione. Questo, insieme all’intervallo esteso di temperature operative, lo rende ideale per applicazioni impegnative di test sui semiconduttori.

I tester per semiconduttori verificano che il dispositivo sotto test (DUT) soddisfi le specifiche, applicando una tensione/corrente ai relativi pin. Poiché i relè tradizionali non sono adatti allo scopo, è comune utilizzare i fotorelè per via del loro funzionamento allo stato solido e delle dimensioni compatte. Tipicamente, viene utilizzato per il controllo un FPGA (field programmable gate array) ma, dato che questi dispositivi funzionano sempre più spesso a 1,8V, la compatibilità può essere un problema.

TLP3412SRLA: Caratteristiche tecniche

Il nuovo fotorelè TLP3412SRLA offre la tensione operativa più bassa dei prodotti Toshiba (VFON), pari a soli 1,6V, che lo rende adatto all’utilizzo con FPGA a bassa tensione da 1,8V.

È prassi comune testare i semiconduttori ad alte temperature con i fotorelè posizionati sulla scheda sonda vicino al DUT: essi dovranno funzionare a temperatura ambiente elevata. Il nuovo dispositivo è caratterizzato da una temperatura operativa massima di 125°C, che garantisce così un margine adeguato di temperatura all’interno dell’apparecchiatura.

Data la necessità di velocità elevate nel test dei semiconduttori, spesso vengono testati più DUT in parallelo, e ciò richiede schede sonda molto dense. Il dispositivo TLP3412SRLA è alloggiato nel minuscolo contenitore originale S-VSON4T di Toshiba che misura appena 1,45 mm × 2,0 mm × 1,4 mm.

Il nuovo fotorelè è configurato per un tipo di contatto 1A (NO) e presenta una corrente nello stato attivo (ION) di 400 mA in corrente continua o 1200 mA con corrente impulsata (IONP). La resistenza nello stato attivo è tipicamente 1,0Ω e i tempi di commutazione (tON/tOFF ) sono rispettivamente inferiori a 350 μs /150 μs. La tensione di isolamento (BV) è di almeno 500 Vrms.

Oltre ad essere ideale per il test dei semiconduttori, il fotorelè TLP3412SRLA è adatto anche a un’ampia varietà di applicazioni industriali impegnative, inclusi i controllori logici programmabili (PLC).

Ulteriori informazioni sul nuovo fotorelè sono disponibili al seguente link.